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OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings, Taschenbuch von Jürgen [Hrsg.] Beyerer, KIT Scientific Publishing,
Ocm 2015 - Optical Characterization Of Materials - Conference Proceedings, Taschenbuch Von Jürgen [hrsg.] Beyerer, Kit Scientific Publishing, 978-3-7315-0318-7, Seitenanzahl: 298
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KIT Scientific Publishing OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings (Deutsch, Softcover, Fernando Puente Len, Jürgen Beyerer, Thomas Längle) (55586117)
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